可靠性測(cè)試是對(duì)產(chǎn)品在規(guī)定的使用壽命和所有環(huán)境(如預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存)中的功能可靠性進(jìn)行評(píng)估的活動(dòng)。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境經(jīng)濟(jì)條件下經(jīng)受其作用,以評(píng)價(jià)企業(yè)產(chǎn)品在實(shí)際需要使用、運(yùn)輸和儲(chǔ)存的環(huán)境條件下的性能,并分析問(wèn)題研究環(huán)境因素的影響不同程度及其重要作用機(jī)理。
可靠性試驗(yàn)主要包括:
1.氣候環(huán)境試驗(yàn):高低溫試驗(yàn)、高低溫交替試驗(yàn)、快速溫度變化試驗(yàn)、低壓試驗(yàn)、防護(hù)等級(jí)試驗(yàn);
2.鹽霧試驗(yàn):中性鹽霧、酸性鹽霧、銅加速鹽霧和循環(huán)鹽霧。
3.機(jī)械試驗(yàn):振動(dòng)試驗(yàn)(隨機(jī)振動(dòng)、掃頻振動(dòng))、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)。
4.力學(xué)系統(tǒng)性能進(jìn)行試驗(yàn):拉伸性能、彎曲性能、壓縮生產(chǎn)性能、擺錘沖擊。
5.熱性能測(cè)試:熱變形溫度、維卡軟化點(diǎn)、熔化指數(shù)。
6.電學(xué)系統(tǒng)性能:介電強(qiáng)度、絕緣材料電阻、接觸一個(gè)電阻、接地影響電阻、電壓降。
7.材料試驗(yàn):氙氣燈老化試驗(yàn)、熒光燈老化試驗(yàn)、材料邵氏硬度、鉛筆硬度、耐化學(xué)性、色差、光澤度、附著力、附著力。
可靠性檢測(cè)分類(lèi)方法:
1.如以環(huán)境發(fā)展條件來(lái)劃分,可分為包括通過(guò)各種各樣應(yīng)力條件下的模擬系統(tǒng)測(cè)試和現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試;
2.試驗(yàn)項(xiàng)目可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn)
3.若按測(cè)試研究目的來(lái)劃分,則可分為篩選進(jìn)行測(cè)試、鑒定系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收通過(guò)測(cè)試;
4.按試驗(yàn)性質(zhì)也可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)。
如需辦理,可以留言聯(lián)系我們。訊科檢測(cè)作為CMA, CNAS授權(quán)實(shí)驗(yàn)室,可為企業(yè)提供各類(lèi)產(chǎn)品的測(cè)試及認(rèn)證服務(wù),我們的服務(wù)宗旨是:讓您的產(chǎn)品通全球!
下一篇:CE認(rèn)證之“電磁兼容EMC指令”
- EN62368 安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)與舊版 EN60950 的條款差異梳理
- 量產(chǎn)可靠性驗(yàn)證與研發(fā)設(shè)計(jì)階段測(cè)試的核心差異
- GB/T 3187 可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)壽命測(cè)試的規(guī)范
- 加速壽命測(cè)試中 MTTF 目標(biāo)的分階段驗(yàn)證方案
- 防腐等級(jí)測(cè)試JB/T 9535-9536辦理指南:四項(xiàng)必測(cè)項(xiàng)與流程拆解
- 高低溫循環(huán)篩選是否會(huì)造成元器件二次損傷
- 分立元器件篩選與 PCB 整板篩選的取舍關(guān)系
- 冷熱沖擊試驗(yàn)箱溫變區(qū)間與溫度梯度管控標(biāo)準(zhǔn)
- 環(huán)境應(yīng)力篩選對(duì)芯片內(nèi)部封裝缺陷的暴露機(jī)制
- 應(yīng)力篩選試驗(yàn)樣品的安裝定位與固定規(guī)范


